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V. KARAKHANYAN, R. SALUT, M. A. SUAREZ, N. MARTIN, T. GROSJEAN
Institut FEMTO-ST, France
Sera renseigné plus tard.
3:30pm - 3:45pm
SURFACE POLARITON: RESONANCE FREQUENCY DETERMINED THROUGH ATOMIC PHYSICS, THERMAL EMISSIVITY, ELLIPSOMETRY
J. C. DE AQUINO CARVALHO1, I. MAURIN1, P. S. CHAVES DE SOUZA1, A. LALIOTIS1, D. DE SOUSA MENESES2, S. HURAND3, D. BLOCH1
1CNRS UMR7538 et Sorbonne Paris Nord; 2CEMHTI UPR 3079 du CNRS; 3PPRIME UPR 3346 du CNRS
Surface modes govern near-field thermal emission, but knowing precisely their resonances remains a challenge in nanophotonics. For a given sapphire window, we find some disagreements between predictions derived from bulk thermal emissivity and Atom-Physics measurements. Ellipsometry looks a promising alternate method.
3:45pm - 4:00pm
THE APPLICATION OF THE PHOTONIC ATOM PROBE TO THE SUB-WAVELENGTH ANALYSIS OF OPTOELECTRONIC DEVICES
L. RIGUTTI1, A. DIAZ DAMIAN1, J. HOUARD1, A. VELLA1, F. VURPILLOT1, M. HUGUES2, J.-M. CHAUVEAU3, G. MUZIOL4, H. TURSKI4
1Université de Rouen Normandie, France; 2Centre de Recherches sur l’HétéroEpitaxie et ses Applications, CNRS, Université Côte d’Azur, 06000 Nice, France; 3Groupe d’Etude de la Matière Condensée, UMR 8635 CNRS, Université Versailles St Quentin/Paris Saclay. 78000 Versailles, France; 4Institute of High Pressure Physics of the Polish Academy of Sciences ” UNIPRESS”, 01-142, Warszawa, Poland.
The Photonic Atom Probe (PAP) allows for the measurement of Photoluminescence (PL) of a sample tip while it is being analyzed by Laser-Assisted Atom Probe. It becomes possible to correlate the optical signature of the different parts of a complex structure with the 3D distribution of the contained chemical species with sub-wavelength resolution.
4:00pm - 4:15pm
EMISSION THERMIQUE HAUTE TEMPÉRATURE DANS DES NANO FABRY PEROT COUPLÉS EN MATÉRIAUX ULTRARÉFRACTAIRES
J. LACKNER1,2, B. FIX1, C. DUPUIS2, N. BARDOU2, A. MARTIN2, A. BOSSEBOEUF2, P. BOUCHON1
1ONERA, France; 2C2N, université Paris Saclay, France
Contrôler l’émission thermique à haute température implique des contraintes sur le choix des matériaux et des géométries. Nous démontrons une source infrarouge piqué spectralement (facteur de qualité supérieur à 50) faite d’un tungstène nanostructuré. Ce métamatériau met en jeu le couplage de deux nano-cavités de type Fabry-Perot.
4:15pm - 4:30pm
ÉTIQUETTE ANTI-CONTREFAÇON BASÉE SUR L'EXTRAIT D'OPUNTIA FICUS-INDICA FONCTIONNANT DANS LES BANDES OPTIQUE ET TÉRAHERTZ.
S. KAMWE SIGHANO
Université de Technologie de Troyes (France)_Università della Calabria (Italie), France
En réponse à la contrefaçon, nous proposons une nouvelle étiquette anticontrefaçon à deux niveaux de sécurité. Le premier obtenu par dépôt aléatoire d'une solution fluorescente, détectable par excitation UV. le deuxième obtenu par la présence d'un logo déposé par sputtering de 25 nm d'ITO, détectable uniquement par spectroscopie térahertz.
