2:00pm - 2:30pmIMAGERIE ET CONTROLE DE FRONTS D’ONDES EN LUMIERE COHERENTE ET INCOHERENTE
P. BERTO2,3, C. GENTNER1,2, C. LIU1,2, T. WU1,2,3, R. KUSZELEWICZ2, G. TESSIER1,2
1Sorbonne Université, France; 2Institut de la Vision, UMR CNRS 7210, INSERM; 3Université Paris Descartes
L'holographie est une méthode efficace d'imagerie des fronts d'onde en lumière cohérente, mais des techniques travaillant en lumière incohérente émergent actuellement. Nous présentons des méthodes pour mesurer, mais aussi mettre en forme des fronts d'onde, dans le contexte de la superlocalisation 3D de nanoparticules et d’applications en biologie.
2:30pm - 2:45pmDÉPOLARISATION PARFAITE EN DIFFUSION SIMPLE PAR DES DÉSORDRES DE SURFACE ET DE VOLUME NON CORRÉLÉS
J.-P. BANON1,2, I. SIMONSEN2,3, R. CARMINATI1
1Institut Langevin, ESPCI Paris, CNRS, PSL University, 1 rue Jussieu, 75005 Paris, France; 2Surface du Verre et Interfaces, UMR 125 CNRS/Saint-Gobain, F-93303 Aubervilliers, France; 3Department of Physics, NTNU -- Norwegian University of Science and Technology, NO-7491 Trondheim, Norway
Nous montrons l'existence de directions de dépolarisation parfaite dans la diffusion simple de lumière par une surface rugueuse et des fluctuations d'indice. Ces directions sont caractérisées par l'orthogonalité des champs des ondes diffusées respectivement par la surface et le volume, ce qui donne une interprétation physique claire du phénomène.
2:45pm - 3:00pmOPTIMIZATION OF ILLUMINATION SCANNING IN TOMOGRAPHIC DIFFRACTIVE MICROSCOPY
A. M. TADDESE, N. VERRIER, M. DEBAILLEUL, J.-B. COURBOT, O. HAEBERLE
Université de Haute-Alsace, France
We propose several classes of sample scanning patterns In tomographic diffractive microscopy, and study their respective Optical Transfer functions. Simulation and experiments are also conducted to compare quality of associated reconstructed images. 3D uniform angular sweeping fills the Fourier space optimally, leading to better quality images.
3:00pm - 3:15pmREALISER DES MESURES OPTIQUES PRECISES DANS LES MATERIAUX DIFFUSANTS PAR CONTROLE DE FRONT D'ONDE
D. BOUCHET1,2, S. ROTTER3, A. P. MOSK1
1Debye Institute for Nanomaterials Science, Utrecht University, 3508 TA Utrecht, The Netherlands; 2Université Grenoble Alpes, CNRS, LIPhy, 38000 Grenoble, France; 3Institute for Theoretical Physics, Vienna University of Technology (TU Wien), A-1040 Vienna, Austria
Nous avons développé une méthode de contrôle de front d’onde permettant de générer des champs cohérents optimisés spatialement afin d’estimer précisément la valeur d'un paramètre donné. Cette approche, qui maximise l’information de Fisher, permet de réaliser des mesures précises quelle que soit la complexité du système étudié.
3:15pm - 3:30pmPROFILOMÉTRIE SUPER-RÉSOLUE PAR INTERFÉROMÉTRIE OPTIQUE
S. PERRIN1, S. LECLER1,2, P. MONTGOMERY1
1ICube Research Institute, France; 2INSA de Strasbourg, France
Reposant sur l'imagerie à travers des microsphères, nous avons développé une méthode d'amélioration du pouvoir de résolution de la profilométrie interférométrique. En compensant les aberrations, cette combinaison innovante a permis de reconstruire des topographies sub-longueur d'onde avec une grande exactitude et une sensibilité nanométrique.
3:30pm - 3:45pmMICROPOLARIMETRE IMAGEUR POUR L’ANALYSE COLORIMETRIQUE DE METASURFACES
M. NICOLAS1,2, I. SOUMAHORO3, G. GUIDA4, W. DANEY DE MARCILLAC1, D. DEMAILLE1, C. SCHWOB1, S. BOUJDAY2, B. GALLAS1
1INSP - CNRS - Sorbonne Université, France; 2LRS - CNRS - Sorbonne Université, France; 3Université Nangui Abrogoua - Côte d'Ivoire; 4LEME - Université Paris Nanterre
Nous avons réalisé un micropolarimètre imageur permettant de déterminer la matrice de Mueller complète d’une surface. La séparation des signaux provenant des pixels rouge (R), vert (V) et bleu (B) du détecteur permet de reconstruire une image en couleur de la surface pour n’importe quelles conditions de polarisation.
3:45pm - 4:00pmCARACTERISATION DE L’HOMOGENEITE DES COUCHES MINCES TRANSPARENTES A L’AIDE D’ELLIPSOMETRIE EN REFLEXION ET EN TRANSMISSION POUR LES APPLICATIONS OPTIQUES ET MECANIQUES
A. GUEDICHE, A. MOINY, O. GUILLOT, P. BELLEVILLE, H. PIOMBINI
CEA, DAM Le Ripault
Pour évaluer l'importance de ce défauts sur les optiques du laser MEGAJOULE, nous avons développé un ellipsomètre à 633 nm qui permet d'effectuer des cartographies. Nous décrirons théoriquement le phénomène évoqué ainsi que l'ellipsomètre et nous donnerons ses premiers résultats.
|
